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| 型号：VK-X250 |
| 详细描述 |
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主要特点：
►集显微镜、SEM、粗糙度测量仪与一体
►还可测量透明体的最表面及背面形状
►高灵敏度16 bit 感应
►通过激光扫描获取表面信息，并实施3D测量
►全自动测量,无需预处理，可实现高精细彩色观察
►可进行非接触测量
►测量速度最高可达120 Hz 超高速扫描
►WIDE-Scan 实现了简单且高速的大视野测量
►搭载超高精度0.5 nm 线性尺规模块
►自动测量功能
►自动分析和处理多个文件
►放大150到28000 倍观察
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